.jpg)
Микроскоп стереоскопический SteREO Discovery V20 (Zeiss)
Микроскоп стереоскопический SteREO Discovery V20 (Zeiss)
Подробнее
Ресурсный центр оснащён современным парком оборудования для исследований различных объектов:
.jpg)
Микроскоп стереоскопический NSZ-806 (Nexscope)
.jpg)
Станция заливки гистологических образцов HistoCore Arcadia (Leica)
, для изготовления парафиновых срезов.jpg)
Микротом ротационный HistoCore MultiCut (Leica), для изготовления парафиновых срезов
Микротом-криостат Leica CM1520, для изготовления замороженных срезов
 VT1000 S (Leica).jpg)
Микротом вибрационный (вибратом) VT1000 S (Leica), для изготовления срезов нефиксированных и фиксированных тканей.
.jpg)
Иммуностейнер автоматический BOND RXm (Leica)
Полуавтоматический гистопроцессор для фиксации, проводки, декальцинации, а также демаскирования антигенов.
Система микроскопии на основе голотомографии – позволяет получать высококачественные трёхмерные изображения биологических образцов.
Система микроскопии и высокопараметрического скрининга клеточных культур в светлом поле, в фазовом контрасте и в режиме широкопольной флуоресценции.
Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100+, JEOL, Япония
STEM Соотношение полных/пустых капсидов AAV
TEM Соотношение полных/пустых капсидов AAV
STEM Идентификация вирусных частиц
TEM Идентификация вирусных частиц
Соотношение полных/пустых капсидов AAV
Идентификация вирусных частиц
STEM/TEM Идентификация липидных наночастиц (определение формы, размеров)
AFM Идентификация липидных наночастиц (определение формы, размеров)
TEM Исследования наночастиц (с возможностью проведения элементного анализа, формы и размеров частиц, межплоскостных расстояний, дифракции электронов)
Идентификация частиц (определение формы, размеров)
Исследования наночастиц (с возможностью проведения элементного анализа, формы и размеров частиц, межплоскостных расстояний, дифракции электронов)
AFM Исследование формы, размеров, упругих, электрических свойств (возможно проведения анализа в жидкости)
SEM Исследование поверхности, формы, размеров
SEM Исследование поверхности, наличия микро- или наноструктуры тонких пленок, элементный анализ
AFM Исследование поверхности, наличия микро- или наноструктуры, шероховатость
Исследование формы, размеров, упругих, электрических свойств (возможно проведения анализа в жидкости)
Исследование поверхности, формы, размеров
Исследование поверхности, наличия микро- или наноструктуры, элементный анализ
От широкопольной до конфокальной микроскопии
Световая микроскопия (фазовый контраст, DIC, голотомография)
Широкопольная флуоресцентная микроскопия (в т.ч. съёмка временных серий во время культивирования клеток)
Конфокальная микроскопия (Zeiss LSM 980 Airyscan 2)
Обработка изображений, 3D-реконструкции, количественный анализ
